可测试性设计
kě cè shì xìng shè jì
ㄎㄜˇ ㄘㄜˋ ㄕˋ ㄒㄧㄥˋ ㄕㄜˋ ㄐㄧˋ
📖 词语释义
- 拼音字母ke ce shi xing she ji
- 首字母kcsxsj
- 注音符号ㄎㄜ ㄘㄜ ㄕ ㄒㄧㄥ ㄕㄜ ㄐㄧ
- 更新2026-07-15 22:14:00
更多解释
可测试性设计（英语：Design for Testability, DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。
可测试性设计（英语：Design for Testability, DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。